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  • WD4000半導(dǎo)體晶圓表面幾何形貌檢測(cè)系統(tǒng)
    WD4000半導(dǎo)體晶圓表面幾何形貌檢測(cè)系統(tǒng)

    WD4000半導(dǎo)體晶圓表面幾何形貌檢測(cè)系統(tǒng)通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

    時(shí)間:2024-10-22型號(hào):WD4000訪問(wèn)量:46
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  • WD4000晶圓厚度Wafer參數(shù)量測(cè)設(shè)備
    WD4000晶圓厚度Wafer參數(shù)量測(cè)設(shè)備

    WD4000晶圓厚度Wafer參數(shù)量測(cè)設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。可兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。

    時(shí)間:2024-10-14型號(hào):WD4000訪問(wèn)量:153
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  • WD4000晶圓表面形貌量測(cè)設(shè)備
    WD4000晶圓表面形貌量測(cè)設(shè)備

    WD4000晶圓表面形貌量測(cè)設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹曲wafer、測(cè)量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

    時(shí)間:2024-09-30型號(hào):WD4000訪問(wèn)量:305
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  • WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌檢測(cè)機(jī)
    WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌檢測(cè)機(jī)

    WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌檢測(cè)機(jī)通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

    時(shí)間:2024-09-19型號(hào):WD4000訪問(wèn)量:197
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  • WD4000系列晶圓wafer厚度測(cè)量設(shè)備
    WD4000系列晶圓wafer厚度測(cè)量設(shè)備

    WD4000晶圓wafer厚度測(cè)量設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測(cè)。

    時(shí)間:2024-09-06型號(hào):WD4000系列訪問(wèn)量:390
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  • WD4000系列半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備
    WD4000系列半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備

    WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測(cè)設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

    時(shí)間:2024-08-29型號(hào):WD4000系列訪問(wèn)量:362
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  • WD4000系列半導(dǎo)體晶圓大翹曲wafer測(cè)量設(shè)備
    WD4000系列半導(dǎo)體晶圓大翹曲wafer測(cè)量設(shè)備

    WD4000系列半導(dǎo)體晶圓大翹曲wafer測(cè)量設(shè)備通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測(cè)量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度,TTV、BOW、WARP、在高效測(cè)量測(cè)同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。

    時(shí)間:2024-08-19型號(hào):WD4000系列訪問(wèn)量:353
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  • WD4000晶圓Wafer厚度測(cè)量系統(tǒng)
    WD4000晶圓Wafer厚度測(cè)量系統(tǒng)

    WD4000晶圓Wafer厚度測(cè)量系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測(cè)。

    時(shí)間:2024-08-09型號(hào):WD4000訪問(wèn)量:463
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